紫外試驗(yàn)箱/紫外老化箱的陷阱電荷密度
 
首先紫外試驗(yàn)箱/紫外老化箱提出一種兩能級(jí)水平的電荷入陷和脫陷動(dòng)力學(xué)模型, 提取了對(duì)應(yīng)的陷阱能級(jí)和電荷陷阱電荷密度參數(shù)。結(jié)合PEA空間電荷測(cè)量及數(shù)值計(jì)算結(jié)果，確定了不含添加劑的LDPE樣品中存在的兩種水平的陷阱能級(jí)分別為：較淺陷阱能級(jí)0.88 eV和較深陷阱能級(jí)1.01 eV。同時(shí)，利用模型初步驗(yàn)證了老化后的材料深陷阱能級(jí)的增加和對(duì)應(yīng)的陷阱電荷密度的變化，證實(shí)了材料老化產(chǎn)生了一定水平的更深能級(jí)的陷阱。因此，模型中參數(shù)可考慮作為材料老化診斷的特征參量。
 
通過(guò)比較直流電壓下不同電老化程度低密度聚乙烯的空間電荷衰減特性，并借助于提出的多能級(jí)陷阱模型，獲得了能夠反映老化程度的空間電荷陷阱參數(shù)：
 
①去壓后，不同電老化樣品的總電荷衰減規(guī)律均為開(kāi)始快速衰減，隨后電荷衰減速度隨著電老化程度增大而減緩；
② 隨著電老化程度的增大，陷阱深度為0.8 eV對(duì)應(yīng)的陷阱電荷密度減少；陷阱深度為0.85 eV對(duì)應(yīng)的陷阱電荷密度增大；陷阱深度大于0.95 eV后，陷阱電荷密度分布的峰值往陷阱深度高的方向移動(dòng)。電老化使材料內(nèi)部的陷阱從較淺陷阱轉(zhuǎn)化為較深陷阱。
 
③紫外試驗(yàn)箱/紫外老化箱不同電老化樣品單位體積內(nèi)的總陷阱電荷密度近似相等，但電老化改變了材料體內(nèi)的陷阱電荷密度分布，可考慮利用不同陷阱深度下的陷阱電荷密度分布信息來(lái)表征電老化程度。
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